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반도체 테스트 일반
| 자료번호 | p568866 | ||
|---|---|---|---|
| 수정일 | 2014.11.10 | 등록일 | 2008.12.24 |
| 페이지수 | 57Page | 파일형식 |  PDF |
| 판매자 | st***** | 가격 | 3,000원 |
프리미엄자료
(한국산업의이해 A형) 한국의 반도체산업에 관해 논하시오 [반도체]- 테스트 공정으로 나누어진다. 그리고 측정·분석공정은 반도체 제조공정 과정에서 오류를 최소한으로 하기 위하여 주기적으로 공정의 정확도를 측정하고, 오류가 발생하면 그 원인을 분석하는 공정을 가리킨다. 이러한 반도체 제조공정 과정
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- 반도체 전반적인 공정 과정
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소개글
일반적인 반도체 디지탈 테스트의 사항에 대한 설명과 불량의 예, 및 반도체 테스트 후의 후공정에 대한 설명을 사진과 같이 설명이 된 자료이다. 특히 function test는 DFT기반의 test item위주로 간단한 설명을 하였고, DC test는 테스트 진행하는 기본적인 절차에 대하여 설명을 하였다.
목차
1. Purpose of IC Test
2. Electrical Test(E/L) / Final Test Items
3. Test Hardware & Softwafer
4. Test Process Flow
5. Open/Short Test
6. Leakage test
7. IIL/IIH Test
8. VIL/VIH, VOL/VOH Test
9. IDDS
10. DataSheet
11. Functional Test
11-1. DFT(Design for Test)
11-2. SCAN Test
11-3. BIST(Built-in Self Test)
11-4. Boundary SCAN(JTAG)
11-5. NAND Tree Test
12. Backend Process
13. Glossary
2. Electrical Test(E/L) / Final Test Items
3. Test Hardware & Softwafer
4. Test Process Flow
5. Open/Short Test
6. Leakage test
7. IIL/IIH Test
8. VIL/VIH, VOL/VOH Test
9. IDDS
10. DataSheet
11. Functional Test
11-1. DFT(Design for Test)
11-2. SCAN Test
11-3. BIST(Built-in Self Test)
11-4. Boundary SCAN(JTAG)
11-5. NAND Tree Test
12. Backend Process
13. Glossary
본문내용
반도체 테스트 일반
반도체 테스트의 일반적인 사항과 소프트웨어, 하드웨어에 대한 개론적인 설명 및 반도체 테스트의 테스트 아이템별 세부적인 설명 및 절차와 DFT(Design for Test)에 대한 간략한 설명을 나타내고 있다. 그 외의 테스트 후공정에 사용되는 장비에 대한 설명 및 테스트 전반에 사용되는 용어의 정이에 대하여 정리를 해 놓았다. 반도체 테스트 아이템으로는 특히 DC test와 DFT를 기반으로 하는 function test에 대한 설명 및 테스트 절차에 대하여 설명을 하였고, DC test에서 발생하는 불량의 예에 대한 설명을 첨부 하였다.
반도체 테스트의 일반적인 사항과 소프트웨어, 하드웨어에 대한 개론적인 설명 및 반도체 테스트의 테스트 아이템별 세부적인 설명 및 절차와 DFT(Design for Test)에 대한 간략한 설명을 나타내고 있다. 그 외의 테스트 후공정에 사용되는 장비에 대한 설명 및 테스트 전반에 사용되는 용어의 정이에 대하여 정리를 해 놓았다. 반도체 테스트 아이템으로는 특히 DC test와 DFT를 기반으로 하는 function test에 대한 설명 및 테스트 절차에 대하여 설명을 하였고, DC test에서 발생하는 불량의 예에 대한 설명을 첨부 하였다.
참고문헌
The fundamentals of Digital semicondutor testing
반도체 IC 테스트
반도체 IC 테스트
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